TriWave
TriWave
更高的选择性、特异性和实验通用性
更高的选择性、特异性和实验通用性
传统质谱仪是以m/z为基础进行分离的。TriWave离子淌度装置使您还能够以离子碰撞截面（包括其大小、形状和电荷）为基础分离离子，显著提高样品精度。
概述
- 区分单靠UPLC或质量数无法分离的组分，例如同分异构体、构象异构体
- 在不存在干扰的情况下检出更多分析物，进行更为可靠的鉴别
- 快速得到有关构象的信息，用作X射线、NMR或EM技术的补充
- 通过将IMS与单个或多个碎裂阶段相结合，进行更全面的结构表征
TriWave设计
TriWave技术能够在MS系统的SYNAPT系列中进行离子淌度分离，该技术包括三个行波设备，可以非常精确、快速和高效的方式控制（捕集、蓄积、释放、分离和碎裂）离子。
通过离子淌度分离分子，可显著扩展高分辨率MS/MS的分析能力，拓展科学家分析复杂混合物和复杂分子的范围，提升分析的可靠性。
IMS可改善分离并提高峰容量
T-Wave可进行正交分离，IMS分辨率足以分离不适合通过m/z分离的离子、同分异构体、构象异构体，以及具有不同分子类别或电荷态的离子。与仅通过m/z分离相比，T-Wave还具有更高的峰容量，可显著提高选择性（分析峰容量）和特异性（结果可靠性）。
IMS确认和结构表征
T-Wave IMS提供了一种独特的方法，通过确定碰撞截面值(CCS)来改善分子结构的表征。肽和小分子的构象测量结果已被证明能够作为传统结构分析技术的补充。
TriWave提供了一系列选项，将IMS与CID（单级或双级）或ETD结合使用，可增加碎裂实验获得的信息量。该技术可为经修饰的肽、脂质、小分子、糖和聚合物提供更全面的表征。
T-Wave IMS分离原理
T-Wave IMS利用不均一的移动电场/电压脉冲推动离子穿过中性缓冲气体。随着离子的推动，它们与中性缓冲气体相互作用/碰撞，从而减慢离子推动速度，使具有不同大小、形状、电荷和质量数的离子以不同的速率迁移。
与淌度较低的种类（延伸得更长）相比，淌度较高的种类（更致密）更多集中在波前，更不易被波超越，以此实现基于淌度的分离。
T-Wave IMS实际操作
到达TriWave装置的离子在TRAP T-Wave中蓄积，然后释放到IMS T-Wave中，在这里发生基于淌度的分离。IM分离的大量离子通过TRANSFER T-Wave传输至正交加速度飞行时间(oa-Tof)分析器。
该过程以数十毫秒的时帧连续重复进行，具有非常高的占空比，这意味着IMS的优势可以在UPLC分离和Tof质谱分析中充分发挥，而不会影响分析的灵敏度或速度。
