TriWave
選擇性、專一性、實驗多功能性達到更高水準
傳統質譜儀只能根據m/z進行分離處理。TriWave離子遷移裝置卻能根據離子的碰撞截面（包括離子的大小、形狀和電荷）來分離處理離子，因而能大幅提高樣品清晰度。
概述
- 區分單靠UPLC或質量無法分離的成分，例如異構體、構象異構體
- 不會發生干擾情形，因此能看到更多分析物，鑑定更有把握
- 快速從構象中得出資訊，補足X射線、NMR或EM技術的不足
- 結合IMS與單個或多個碎裂階段，進行更全面的結構表徵分析
TriWave設計
採用TriWave技術可在SYNAPT系列的MS系統中進行離子遷移的分離處理程序，它由三個行進波裝置組成，可以精確、迅速和高效地操縱離子，包括捕獲、累積、釋放、分離和碎裂等。
經過離子遷移而分離處理的分子，讓高解析度的MS/MS分析更能發揮強大的功效，科學家也能因此剖析更大範圍的複雜混合物和複雜分子，心態上也變得更有把握。
IMS可提升分離處理能力並提高峰容量
IMS確認和結構表徵分析
T-Wave IMS的處理方式獨樹一幟，能藉由確定碰撞截面值(CCS)來加強分子結構的表徵分析。針對胜肽和小分子所產生的構象量測，已經證實可以補足傳統結構分析技術的不足。
TriWave結合了IMS與CID（一個或兩個階段）或ETD，讓您有一系列選擇，可收集更多的碎裂實驗資訊。該技術讓修飾的胜肽、脂質、小分子、碳水化合物和聚合物有更全面的表徵分析。
T-Wave IMS分離原理
T-Wave IMS會運用不均勻、移動的電場/電壓脈衝來推動離子通過中性緩衝氣體。當離子通過時，會與中性緩衝氣體相互作用/碰撞，因而減慢了速度，讓不同大小、形狀、電荷和質量的離子以不同的速率傳輸。
具有高遷移性（更緊湊）的種類會更多集中在波前緣，比起低遷移性（更延展）的種類，較不容易被訊號波超越，因此就會發生以遷移性為主的分離作用。
T-Wave IMS實作狀態
抵達TriWave裝置的離子會累積在TRAP T-Wave中，然後釋放到IMS T-Wave，在這裡發生基於遷移性的分離作用。IM分離的大量離子會經由TRANSFER T-Wave傳輸到正交加速飛行時間(oa-Tof)分析器。
這個過程會在幾十毫秒的時間範圍內，以非常高的非空因數不斷重複，也就是說，搭配UPLC分離處理和Tof質量分析，就能發揮IMS優勢，且不影響靈敏度或分析速度。
